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        TESA MICRO-HITE測(cè)高儀

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        产品介绍

        自持式設(shè)計(jì),專注一維或二維測(cè)量平面、平行或圓柱表面的內(nèi)部、外部、高度、深度、階梯和距離等任何幾何特征尺寸。

        TESA MICRO-HITE實(shí)現(xiàn)一維和二維測(cè)量的強(qiáng)大功能和高性能,使用TESAIG-13測(cè)頭程序化功能探測(cè)行為誤差。


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